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長輸管道數(shù)字化無損檢測常見質量問題

來源:無損檢測證書掛靠網(wǎng) 時間:2025-10-21 作者:無損檢測證書掛靠網(wǎng) 瀏覽量:

國家管網(wǎng)在“十四五”期間,每年新增長輸管道約4 000 km,長輸管道作為能源傳輸?shù)闹匾A設施,其安全性與可靠性受到廣泛關注。在管道建設過程中,無損檢測成為保障管道質量與安全的重要手段。近年來,我國長輸管道建設中的無損檢測已經逐步實現(xiàn)數(shù)字化,數(shù)字化技術的使用為無損檢測領域帶來了革命性的變革,正逐步改變傳統(tǒng)無損檢測的面貌。

通過集成先進的傳感器技術、圖像處理技術和數(shù)據(jù)分析算法,以全自動超聲波檢測(AUT)、相控陣超聲檢測(PAUT)、X射線數(shù)字成像檢測(DR)為代表的一批數(shù)字化檢測技術得以推廣應用,實現(xiàn)了對長輸管道內部缺陷的精準識別與量化評估。相較于傳統(tǒng)無損檢測方法,數(shù)字化無損檢測不僅具有更高的檢測精度和效率,還能實現(xiàn)檢測數(shù)據(jù)的遠程傳輸、遠程評定、機器評定、長期保存等,極大地提升了管道檢測的智能化水平和便捷性。

隨著檢測技術的復雜程度不斷提高,質量控制環(huán)節(jié)增多,對質量控制環(huán)節(jié)的要求也更加嚴格。在長輸管道工程中,各級質控檢查頻繁,很多問題反復出現(xiàn),文章通過對多次質量內部及外部檢查中發(fā)現(xiàn)的不符合項進行分析,總結其中的共性問題,發(fā)現(xiàn)問題主要集中在人員疏忽、工藝制訂經驗不足和工藝紀律的執(zhí)行不嚴格等方面,從而導致數(shù)據(jù)有效性出現(xiàn)問題,而評定準確性問題相對很少。文章在總結分析的基礎上,以典型數(shù)據(jù)圖譜舉例的形式列舉長輸管道數(shù)字化無損檢測的常見質量問題,為相關領域的從業(yè)人員提供技術參考。

1. AUT檢測

1.1 AUT檢測原理

AUT檢測系統(tǒng)是一種專門為管道自動焊檢測而研發(fā)的超聲波檢測系統(tǒng),利用了超聲波脈沖反射和衍射時差法(以下簡稱TOFD),其中脈沖反射法使用相控陣探頭模擬了多道聚焦聲束,TOFD法一般使用獨立的寬頻窄脈沖縱波探頭,也可以使用相控陣探頭中的部分晶片組合代替。

AUT檢測分區(qū)原理如圖1所示,該技術將焊縫沿厚度方向分成若干個分區(qū)(稱為分區(qū)掃查法),每個分區(qū)用一對聚焦聲束以檢測熔合區(qū)上的面積型缺欠,有串列掃查和自發(fā)自收兩種回波方式,以帶狀圖顯示;為發(fā)現(xiàn)焊縫中間部位的體積型缺陷,采用非聚焦聲束對焊縫中間部位進行掃查,以B型視圖顯示;為對焊縫整體各類型缺陷進一步覆蓋并輔助定性,采用了TOFD技術,以D型視圖顯示;此外,結合耦合監(jiān)測通道和位置傳感器(編碼器)通道,各視圖共同組成了AUT圖譜。

圖1AUT檢測分區(qū)原理示意

圖 1AUT檢測分區(qū)原理示意

帶狀圖由A脈沖橫波聚焦聲束形成,對應記錄圖形中的白色條狀圖,其根據(jù)焊縫沿厚度方向的分區(qū)設置,將焊縫截面沿焊縫中心線分開,按上、下游端以圖像的形式顯示,每個帶狀圖代表一個分區(qū),為減少數(shù)據(jù)體積和便于評定采用了兩個閘門,分別是時間門和幅度門,也稱為“雙門帶狀圖”。

AUT系統(tǒng)主機包括數(shù)據(jù)采集單元、馬達驅動單元和計算機及軟件,完整系統(tǒng)還包括耦合供給單元、電動掃查裝置及軌道。在計算機控制下,掃查裝置沿著管道環(huán)向掃查一周,即可完成對整個焊縫厚度方向的全面檢測,形成AUT圖譜,典型的AUT校準圖譜示例如圖2所示。

圖2典型的AUT校準圖譜示例
圖 2典型的AUT校準圖譜示例

1.2 AUT檢查中常發(fā)現(xiàn)的問題

AUT檢測常見質量問題如表1所示,可見,前7個問題占了問題總量的81%,其中相鄰通道覆蓋問題占20%、軌道偏移問題占17%、體積通道反射體錯誤和溫度超限問題分別占比10%,數(shù)據(jù)丟失、TOFD通道增益超標和期間核查等3個問題合計占24%[1-3]。

Table 1.長輸管道AUT檢測常見質量問題
序號問題發(fā)生次數(shù)
1檢測數(shù)據(jù)表頭信息不完整1
2檢測數(shù)據(jù)通道分布不完整,出現(xiàn)通道丟失2
3每次檢測前、每隔 1 h 或掃查完5 道焊接接頭之后(以時間短者為準),未有相應的期間核查記錄7
4帶狀圖的每個主反射體的峰值信號未在滿屏高度的70%~99%0
5相同坡口角度的相鄰反射體的波幅未比主反射體波幅低 6~24 dB18
6體積通道反射體未正確顯示,校準時目標反射體使用錯誤。9
7TOFD 的直通波幅度未達到滿屏高度的40%~90%7
8掃查靈敏度設置錯誤4
9各通道時間門位置沒有位于坡口面±1 mm以內0
10各通道均應有中心通孔或中心通槽的顯示4
11校入和校出數(shù)據(jù)之間的設置不一致0
12校入/校出之間或校準圖與掃查圖溫差不在±10 ℃以內9
13耦合及掃查數(shù)據(jù)連續(xù)丟失長度超過最小允許的缺欠長度8
14數(shù)據(jù)掃描長度應至少為管子周長加100 mm1
15T0FD信噪比低0
16TOFD探頭的掃描偏移設置不正確0
17軌道偏移超標15
18位置(編碼器)誤差大于10 mm3
19電噪聲過大2

下面是一些典型問題的AUT檢測圖譜如圖311所示,具體分析如下。

圖3期間核查時機錯誤的AUT檢測圖譜
圖 3期間核查時機錯誤的AUT檢測圖譜

圖4主反射波幅不符合標準要求的AUT檢測圖譜
圖 4主反射波幅不符合標準要求的AUT檢測圖譜

圖5相同坡口角度的相鄰反射體波幅不符合標準要求的AUT檢測圖譜
圖 5相同坡口角度的相鄰反射體波幅不符合標準要求的AUT檢測圖譜

圖6體積通道目標反射體使用錯誤的AUT檢測圖譜
圖 6體積通道目標反射體使用錯誤的AUT檢測圖譜

圖7TOFD的直通波幅度未達到標準要求的AUT檢測圖譜
圖 7TOFD的直通波幅度未達到標準要求的AUT檢測圖譜

圖8掃描通道掃查靈敏度設置錯誤(校準時與掃描時的增益值不一致)的AUT檢測圖譜
圖 8掃描通道掃查靈敏度設置錯誤(校準時與掃描時的增益值不一致)的AUT檢測圖譜

圖9校入/校出之間或校準圖與焊縫掃查圖顯示溫差范圍超過標準要求的AUT檢測圖譜
圖 9校入/校出之間或校準圖與焊縫掃查圖顯示溫差范圍超過標準要求的AUT檢測圖譜

圖10數(shù)據(jù)耦合不良長度超過最小允許的缺欠長度的AUT檢測圖譜
圖 10數(shù)據(jù)耦合不良長度超過最小允許的缺欠長度的AUT檢測圖譜

圖11軌道偏移的AUT檢測圖譜
圖 11軌道偏移的AUT檢測圖譜

(1)期間核查時機錯誤

問題發(fā)現(xiàn):圖3(a)中的檢測時間與圖3(b)中檢測時間之差超過標準規(guī)定的1 h,且圖3(b)中的一組采集數(shù)據(jù)數(shù)量超過標準規(guī)定。

產生原因:現(xiàn)場檢測人員對標準理解不透徹,項目管理中技術交底不到位,工作過程中細心度欠缺。

防范措施:加大技術交底頻次和數(shù)據(jù)審核力度。

(2)主反射波幅不符合標準要求

問題發(fā)現(xiàn):圖4(a)中,現(xiàn)場檢測靈敏度復核過程中發(fā)現(xiàn)主反射體波幅過高,數(shù)據(jù)包絡線超過滿屏高度,大于標準要求。

產生原因:檢測系統(tǒng)不穩(wěn)定、相控陣探頭工裝部分晃動、校入校出時環(huán)境溫度變化差較大、相控陣探頭楔塊底部防磨釘丟失等。

防范措施:檢測工作開展前對掃查器各零部件進行檢查,檢查螺絲是否有松動、缺失等;每次試塊校準完成后,逐一對各通道主反射體波幅進行檢查測量,現(xiàn)場發(fā)現(xiàn)問題后應及時調整;加大審核力度,確保校準圖的準確性和有效性。

問題發(fā)現(xiàn):圖4(b)中,現(xiàn)場檢測靈敏度復核過程中,發(fā)現(xiàn)L1D通道主反射體的波幅為69%,不滿足標準要求的每個主反射體的峰值信號應達到滿屏高度的70%~90%。

產生原因:檢測系統(tǒng)不穩(wěn)定、耦合供給單元不穩(wěn)定(有氣泡、壓力變化等)、相控陣探頭工裝部分晃動、環(huán)境溫度變化快、相控陣探頭楔塊磨損嚴重、相控陣楔塊下有雜質異物(飛濺焊渣)等。

防范措施:檢測工作開展前對掃查器各零部件進行檢查,檢查螺絲是否有松動、彈簧壓力是否正常、耦合供給是否正常,根據(jù)氣候變化定期更換耦合油;每次試塊校準完成后,逐一對各通道主反射體波幅進行檢查測量,要做到現(xiàn)場發(fā)現(xiàn)問題及時調整;加強審核力度,確保校準圖的準確性和有效性。

(3)相同坡口角度的相鄰反射體波幅不符合標準要求

問題發(fā)現(xiàn):圖5中,相同坡口角度的相鄰反射體波幅不符合標準要求。

產生原因:主反射體調試角度設置不當、使用起始晶片位置不準導致聚焦法則的聲束焦點未設置在坡口面、激活晶片數(shù)量相對較少導致焦點尺寸過大、相控陣探頭前端距不合適等。

防范措施:選擇合適的探頭前端距、聲束角度和激發(fā)晶片數(shù)量;校準數(shù)據(jù)采集完成后,逐一檢查各通道相鄰覆蓋情況;加強審核力度。

(4)體積通道目標反射體使用錯誤

問題發(fā)現(xiàn):圖6中,各體積通道主反射體顯示與試塊設計明顯不符。

產生原因:試塊校準時,采用了自動延時功能,軟件自動將主反射體通道內的最高波幅進行延時,導致主反射體信號位置錯亂;試塊調試時,對試塊布局不熟悉。

防范措施:系統(tǒng)調試時,需熟悉掌握試塊設計圖紙布局,上、下游依次按序調試;主反射體調試時調整晶片使?1.5 mm平底孔二次反射波波幅高于三次反射波波幅且位于雙門內,確保自動延時的時候,軟件能準確采集主反射體信號;加強審核力度,確保校準圖的準確性和有效性。

(5)TOFD的直通波幅未達到標準要求

問題發(fā)現(xiàn):圖7中,TOFD通道中直通波顏色太淡,甚至不可見,說明TOFD通道靈敏度低于標準要求的40%~90%滿屏高。

產生原因:TOFD探頭耦合劑缺失、TOFD探頭彈簧支臂壓力過小、TOFD楔塊磨損嚴重、管材表面狀態(tài)差(有油漬、環(huán)氧粉末)等。

防范措施:檢測前對掃查器各零部件進行檢查(檢查螺絲是否有松動、彈簧壓力是否正常),根據(jù)環(huán)境變化定期更換耦合劑或對管材表面狀態(tài)做進一步處理;基準靈敏度校準時,在信噪比良好情況下在標準值范圍內盡量提高TOFD直通波波幅。

(6)掃描通道掃查靈敏度設置錯誤

問題發(fā)現(xiàn):圖8中,復核時的靈敏度與掃查時的靈敏度不同,通過查看數(shù)據(jù)后臺,顯示同一通道中的增益值存在差值。

產生原因:基準靈敏度設置完成后,對掃描靈敏度的設置出現(xiàn)錯誤,數(shù)據(jù)采集過程中無意間觸碰到靈敏度調整按鈕。

防范措施:基準靈敏度設置完成后,應在后臺對掃查靈敏度進行一次性調整;數(shù)據(jù)采集時不要退出數(shù)據(jù)采集模式而隨意切換到系統(tǒng)調試模式,防止誤操作;加強數(shù)據(jù)審核力度。

(7)校入/校出之間或校準圖與焊縫掃查圖顯示溫差范圍超過標準要求

問題發(fā)現(xiàn):圖9(a)中,校準時的溫度13.6 ℃與檢測時的溫度23.6 ℃之差超過標準要求的±10 ℃(一般焊縫溫度高于試塊溫度)。

產生原因:現(xiàn)場檢測人員對標準理解不透徹,工作過程中不夠細心,試塊與焊縫數(shù)據(jù)采集時被檢部位表面溫度變化過大,自然環(huán)境下焊縫不同點位對熱量吸收程度不同等。

防范措施:加大技術交底頻次和數(shù)據(jù)審核力度,盡量保證試塊與焊縫受日照狀態(tài)相同,做好焊縫數(shù)據(jù)采集前的預冷卻。

(8)數(shù)據(jù)耦合不良長度超過最小允許長度

問題發(fā)現(xiàn):圖10中,耦合通道中有明顯紅色色塊顯示(一般設置波幅高度<40%滿屏高度時顯示紅色),紅色段表示耦合不良部分,其累計明顯超過標準要求的“最小允許的缺欠長度”。

產生原因:制管焊縫平整度不佳、飛濺等導致探頭跳動;掃查過程中耦合劑供給不良;探頭彈簧支臂回彈不順暢;管材表面有油污、環(huán)氧粉末、泥土等異物。

防范措施:將制管焊縫打磨后重新掃查,如無法滿足要求,按要求進行其他補償檢測;檢測前檢查耦合供給系統(tǒng),保證工作狀態(tài)良好;檢測前檢查探頭架零部件,檢查彈簧支臂回彈是否順暢,檢測過程中注意與管材表面的貼合,必要時按壓探頭和手動澆注耦合劑;清除管材表面的異物。

(9)軌道偏移

問題發(fā)現(xiàn):一般根據(jù)上游B掃描通道MAPU和下游B掃描通道MAPD中的根部幾何反射信號的平直度來判斷軌道偏移的嚴重程度,圖11中B掃描通道MAPU的信號明顯不直,說明軌道安裝變形嚴重。

產生原因:參考線不準、軌道安裝精度誤差大、劃線器磨損嚴重、軌道安裝不牢固。

防范措施:加強劃線器保養(yǎng)、及時更換磨損件、增加劃線器精度校準頻次,軌道安裝時多點位測量。

2. PAUT檢測

在長輸管道相控陣應用中,包括相控陣超聲波技術和TOFD技術。根據(jù)SY/T 4109—2020《石油天然氣鋼質管道無損檢測》標準規(guī)定,當壁厚大于8 mm及以上時,應同時采用TOFD技術,TOFD技術可用于缺陷測高和輔助定性,也能進一步提高缺陷檢出率[4]。

PAUT檢測常見質量問題如表2所示。

Table 2.PAUT檢測常見質量問題
序號問題發(fā)生次數(shù)
1TCG校準不均勻,S掃描角度范圍內分界線明顯2
2二次波對熱影響區(qū)覆蓋不全3
3一次波對根部覆蓋不全3
4靈敏度過低3
5靈敏度過高7
6連續(xù)數(shù)據(jù)丟失1
7掃查靈敏度不一致2
8耦合不良6
9掃描分辨率不滿足標準要求0
10焊接接頭坡口形式設置錯誤2
11TOFD時間窗口設置不滿足標準要求10
12TOFD直通波波高低于20%10
13噪聲過大、影響評定5
14信號異常2
15校入校出間隔超出4 h3

按問題占比排序的前5個原因分別為TOFD時間窗口設置不滿足標準要求、TOFD直通波波高低于20%、增益過高、耦合不良、噪聲過大。

下面是一些有代表性問題的PAUT檢測圖譜(見圖1216)。

圖12TCG校準增益不均勻,S掃描角度范圍內分界線明顯的PAUT檢測圖譜
圖 12TCG校準增益不均勻,S掃描角度范圍內分界線明顯的PAUT檢測圖譜

圖13覆蓋不全問題的PAUT檢測圖譜
圖 13覆蓋不全問題的PAUT檢測圖譜

圖14調試靈敏度問題的PAUT檢測圖譜
圖 14調試靈敏度問題的PAUT檢測圖譜

圖15掃描靈敏度不一致(各道焊口的增益都應一致)的PAUT檢測圖譜
圖 15掃描靈敏度不一致(各道焊口的增益都應一致)的PAUT檢測圖譜

圖16TOFD時間窗口設置不滿足標準要求的PAUT檢測圖譜
圖 16TOFD時間窗口設置不滿足標準要求的PAUT檢測圖譜

(1)TCG校準增益不均勻,S掃描角度范圍內分界線明顯

問題發(fā)現(xiàn):由圖12中箭頭所指示位置可見,S掃描顯示在某一角度具有明顯靈敏度差異分界線,且分界線兩側波幅高度相差較大。

產生原因:角度增益修正(ACG)時,各反射體調試時相控陣探頭壓力、聲束入射角度、耦合狀態(tài)發(fā)生變化,導致靈敏度偏差較大;時間增益修正(TCG)時,校準時反射體選擇錯誤或是校準過程中對靈敏度進行了誤調節(jié)。

防范措施:規(guī)范校準流程,盡量保證校準時各反射體的采集狀態(tài);嚴格執(zhí)行標準規(guī)范,盡量保證校準精度。

(2)覆蓋不全問題

問題發(fā)現(xiàn):圖13中,采集的數(shù)據(jù)S掃描通道中顯示的檢測區(qū)域明顯未包含焊縫余高(一次波)及焊縫熱影響區(qū)(二次波)。

產生原因:檢測對象坡口形式設置錯誤,S掃描角度范圍設置過大或過小,相控陣探頭前端距確定未經過計算或仿真,數(shù)據(jù)采集過程中相控陣探頭固定不牢固,前端距發(fā)生偏移。

防范措施:坡口定義時必須參考焊接規(guī)范,保證坡口角度設置的準確性;根據(jù)被檢對象厚度選擇適當?shù)穆暿嵌确秶粰z測過程中對探頭工裝部分要做好檢查,以保證探頭前端距的固定良好。

(3)調試靈敏度問題

問題發(fā)現(xiàn):圖14左分圖中,校準數(shù)據(jù)中通過調節(jié)數(shù)據(jù)光標和角度光標,在A掃描通道中可觀察到波高明顯低于滿屏高的80%,圖14右分圖中則明顯高于滿屏高的80%。

產生原因:檢測系統(tǒng)不穩(wěn)定、耦合供給單元不穩(wěn)定(有氣泡、壓力變化等)、相控陣探頭工裝部分晃動、環(huán)境溫度變化快、相控陣楔塊下有雜質異物等。

防范措施:檢測工作開展前對掃查器各零部件進行檢查(檢查螺絲是否有松動、彈簧壓力是否正常、耦合供給是否正常),根據(jù)氣候變化定期更換耦合油;每次校準完成后,逐一對該通道不同位置、角度的波幅進行測量;加強審核力度,確保校準數(shù)據(jù)的有效性。

(4)掃描靈敏度不一致

問題發(fā)現(xiàn):圖15中,通過查看后臺數(shù)據(jù),顯示同一通道中“增益(dB)”值存在差值,一個為12.8 dB,一個為10.5 dB。

原因分析:基準靈敏度設置完成后,對掃描靈敏度的設置出現(xiàn)錯誤;數(shù)據(jù)采集過程中無意間觸碰靈敏度調整按鈕。

防范措施:基準靈敏度設置完成后,對掃查靈敏度、表面耦合損失進行一次性調整;數(shù)據(jù)采集時不要退出數(shù)據(jù)采集模式而隨意切換到系統(tǒng)調試模式,防止誤操作;加強數(shù)據(jù)審核力度。

(5)TOFD時間窗口設置不滿足標準要求

問題發(fā)現(xiàn):圖16中,TOFD通道閘門應設置在直通波前0.5 μs至變形波后0.5 μs,圖16中直通波顯示的時間位置在時間窗口內明顯過大。

原因分析:TOFD通道設置時,選取的試塊與被檢工件狀態(tài)不相近或相同;探頭楔塊磨損;探頭工裝部分晃動,探頭中心距發(fā)生變化。

防范措施:應在對比試塊或是被檢工件上對TOFD進行設置;檢測工作開展前對掃查器各零部件進行檢查,保證PCS值的固定;檢測過程中結合數(shù)據(jù)顯示增加對楔塊磨損程度的觀察。

3. DR檢測

在長輸管道X射線數(shù)字成像檢測中,目前主要采用的是DR檢測。國內有多個生產廠家研發(fā)了管道專用工裝,可以使用中心透照法和雙壁單影透照法進行DR成像,采用的都是步進式靜態(tài)成像原理[5-7]。

DR檢測常見質量問題如表3所示,可見主要問題有殘影、焊縫評定區(qū)內焊接殘留物、鉛字/磁鐵/像質計投影到焊縫有效評定區(qū)、偽缺陷等。

Table 3.DR檢測常見質量問題
序號問題發(fā)生次數(shù)
1識別標記錯誤1
2雙線型像質計擺放問題(斜率太小、斜率太大)1
3線型像質計擺放問題(未垂直橫跨壞縫、細絲未朝外)6
4未按工藝選擇最佳透照方式0
5未選擇最佳透照參數(shù)0
6偽缺陷8
7鉛字/磁鐵/像質計投影到焊縫區(qū)域8
8焊縫評定區(qū)內焊接殘留物影響評定12
9數(shù)據(jù)丟失2
10單絲像質計靈敏度不夠4
11圖像分辨率不足3
12圖像信噪比不夠3
13殘影15

一些有代表性問題的DR檢測圖像如圖1721所示

圖17雙線型像質計擺放角度不符合標準的DR檢測圖像
圖 17雙線型像質計擺放角度不符合標準的DR檢測圖像

圖18偽缺陷(管內異物)DR檢測圖像
圖 18偽缺陷(管內異物)DR檢測圖像

圖19鉛字/磁鐵/像質計的鉛字投影到焊縫區(qū)域的DR檢測圖像
圖 19鉛字/磁鐵/像質計的鉛字投影到焊縫區(qū)域的DR檢測圖像

圖20數(shù)據(jù)丟失(數(shù)據(jù)圖像不完整)的DR檢測圖像
圖 20數(shù)據(jù)丟失(數(shù)據(jù)圖像不完整)的DR檢測圖像

圖21殘影的DR檢測圖像
圖 21殘影的DR檢測圖像

(1)雙線型像質計擺放角度不符合標準

問題發(fā)現(xiàn):圖17中,雙線型像質計傾斜角度過大,經評圖軟件測量為8.6°,明顯超過標準規(guī)定2°~5°。

產生原因:現(xiàn)場檢測人員工作過程中操作不認真,未按操作指導書要求擺放雙線型像質計。

防范措施:加強對現(xiàn)場檢測人員的工藝執(zhí)行交底和監(jiān)督,也可使用具有固定角度的雙線型像質計模具。

(2)偽缺陷(管內異物)

問題發(fā)現(xiàn):圖18中,在熱影響區(qū)和焊道位置,發(fā)現(xiàn)有異物影像。

產生原因:施工焊接過程異物遺留。

防范措施:針對施工焊接過程控制,加強焊接前后管內殘留異物的清理。

(3)鉛字/磁鐵/像質計的鉛字投影到焊縫區(qū)域

問題發(fā)現(xiàn):圖19中,在有效評定區(qū)內發(fā)現(xiàn)白色虛影,為磁鐵的投影。

產生原因:現(xiàn)場檢測人員工作過程中細心度欠缺,未仔細觀察考慮射線機窗口角度與擺放標識位置的關系。

防范措施:根據(jù)射線機窗口角度來合理地擺放標識。

(4)數(shù)據(jù)丟失(數(shù)據(jù)圖像不完整)

問題發(fā)現(xiàn):圖20所示的兩張連續(xù)圖像中,通過標記帶可發(fā)現(xiàn)中間不連續(xù),存在焊縫被檢區(qū)域缺少的問題。

產生原因:現(xiàn)場檢測人員工作過程中不夠認真,檢測時候少透照了或拼接圖像時漏拼了。

防范措施:加強現(xiàn)場檢測人員的責任心,透照和拼接圖像后認真檢查圖像是否完整。

(5)殘影DR檢測圖像

問題發(fā)現(xiàn):圖21中的背景中存在以前拍照的殘影。

產生原因:現(xiàn)場檢測人員工作過程中未進行暗場或亮場校正。

防范措施:加強對現(xiàn)場檢測人員的工藝執(zhí)行交底,按要求進行暗場或亮場校正。

4. 無損檢測掛證網(wǎng)結論

(1)列舉了一些AUT、PAUT和DR質量檢查中的常見問題,其產生原因主要為技術交底不清晰明確、檢測人員對標準理解不到位、現(xiàn)場檢測人員技術能力不足、現(xiàn)場工作經驗不足、未嚴格執(zhí)行檢測工藝紀律。

(2)給出了相應的切實有效的糾正措施建議,即,應主要從人的因素方面進行改進,加強檢測人員對標準的理解,提高現(xiàn)場檢測人員的質量、工藝執(zhí)行、責任心意識,由本單位技術專家進行現(xiàn)場技術培訓、指導并考核,讓現(xiàn)場檢測人員知道應該做什么、應該怎么做、做到什么程度。

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